SWY916D介質(zhì)損耗測(cè)試裝置與SWY2851D、SWY2852D、SWY2853D Q表及電感器配用，能對(duì)絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測(cè)試。它符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
  本測(cè)試裝置是由測(cè)微平板電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測(cè)樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)變化通過(guò)公式計(jì)算得到。同樣，由平板電容器的刻度讀數(shù)變化，通過(guò)公式計(jì)算得到介電常數(shù)。

1工作特性
1.1 平板電容器：
1.1.1 極片尺寸：
  SWY916D-38：Φ38mm.
  SWY916D-50：Φ50mm. 
1.1.2 極片間距可調(diào)范圍和分辨率：
  ≥8mm， ±0.002mm
1.2 夾具插頭間距：
  25mm±1mm
1.3夾具損耗角正切值
  ≤2.5×10-4

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