SWY2858介電常數(shù)測(cè)試儀
SWY2858系列 介電常數(shù)測(cè)試儀由高頻阻抗分析儀、測(cè)試裝置，標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成，能對(duì)薄膜、各種板材及液態(tài)絕緣材料進(jìn)行高低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測(cè)試。SWY2858系列 介電常數(shù)測(cè)試儀符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
SWY2858系列介電常數(shù)測(cè)試儀工作頻率范圍是20Hz～5MHz,它能完成工作頻率內(nèi)對(duì)絕緣材料的相對(duì)介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測(cè)試。
SWY2858系列介電常數(shù)測(cè)試儀中測(cè)試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品，配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過(guò)被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數(shù)通過(guò)公式計(jì)算得到。
1 特點(diǎn)：
◎ 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值精度和重復(fù)性。
◎ 介電常數(shù)測(cè)量范圍可達(dá)1～105
2 主要技術(shù)指標(biāo)：
2.1 ε和D性能：
2.1.1 固體絕緣材料測(cè)試頻率20Hz～1MHz的ε和D變化的測(cè)
2.1.2 ε和D測(cè)量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005，
2.1.3 ε和D測(cè)量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。
2.2高頻阻抗分析儀和數(shù)字電橋
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型號(hào)
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SWY2817A
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SWY2818A/B/C
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工作頻率范圍
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50Hz～100kHz（10個(gè)頻點(diǎn)）
精度：±0.05%
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20Hz～1MHz/2MHz/5MHz
數(shù)字合成，精度：±0.02%
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電容測(cè)量范圍
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0.0001pF～99999μF
四位數(shù)顯
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0.00001pF～9.99999F
六位數(shù)顯
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電容測(cè)量基本誤差
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±0.05%
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±0.05%
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損耗因素D值范圍
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0.0001～9.9999
四位數(shù)顯
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0.00001～9.99999
六位數(shù)顯
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2.3 SWY916B 介電常數(shù)測(cè)試裝置（含保護(hù)電極）
2.3.1 平板電容器極片尺寸：Φ5mm、Φ38mm和Φ50mm三種可選.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率：0～8mm， ±0.001mm
2.3.3插頭間距：與電橋四端配合
2.3.4加溫控溫裝置(選購(gòu)設(shè)備)可以完成高達(dá)200℃控溫精度l℃加熱測(cè)試。
2.4 介質(zhì)材料測(cè)試裝置提供四種不同直徑測(cè)試電極，
能對(duì)直徑φ10～56mm，厚度<10mm的試樣精密測(cè)量。它針對(duì)不同試樣
可設(shè)置為接觸電極法，薄膜電極法和
非接觸法三種，以適應(yīng)軟材料，表面不平整和薄膜試樣測(cè)試。
2.4.1 微分頭分辨率：10μm
2.4.2 高耐壓：±42Vp（AC+DC）
2.4.3 電纜長(zhǎng)度設(shè)置：1m
2.4.4 高使用頻率：30MHz
2.5 高頻介質(zhì)樣品（選購(gòu)件）：
在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中，檢定部門(mén)為高頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x提供的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。該樣品由人工藍(lán)寶石，石英玻璃，氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測(cè)試樣品。
用戶(hù)可按需訂購(gòu)，以保證測(cè)試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。
2.6 SWY2858系列 介電常數(shù)測(cè)試儀配置
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配置類(lèi)型
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普及型
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標(biāo)準(zhǔn)型
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精密型
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電橋工作頻率范圍
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100Hz～100kHz
精度：±0.02%
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20Hz～5MHz
精度：±0.02%
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20Hz～5MHz
精度：±0.02%
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配置型號(hào)
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SWY2817A數(shù)字電橋
+SWY916B測(cè)試裝置
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SWY2818系列 阻抗分析儀
+SWY916B三電極測(cè)試裝置
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SWY2818系列 阻抗分析儀
+16451B介質(zhì)材料測(cè)試裝置
（能適宜各種樣品）
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介電常數(shù)范圍
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1-1000
精度：±5%
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1-1000
精度：±2%
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1-100000
精度：±2%
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損耗因素D值范圍
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0.0001～9.9999
四位數(shù)顯
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0.00001～9.99999
六位數(shù)顯
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0.00001～9.99999
六位數(shù)顯
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